绝缘体上硅（SOI）技术

书籍简介:

本书分为两个部分；第一部分包括SOI材料及制造，第二部分包括SOI器件及应用。本书的前几章介绍SOI晶片的制造技术，先进SOI材料的电学特性，以及短沟道SOI半导体晶体管的建模。涉及部分耗尽及全耗尽二种SOI技术。第6章和第7章关注的是无结及氧化物上鳍（fin）型场效应晶体管。还介绍了CMOS器件变化趋势和静电放电中的一些关键技术。第二部分涵盖最近的和已成熟的技术。它们包括射频应用的SOI晶体管，超低功耗应用的SOI CMOS电路，以及利用SOI的三维集成来提高器件性能的方法。最后，第13章和第14章考虑的是用于光电集成电路、微机电系统和纳机电传感器的SOI技术。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	绝缘体上硅（SOI）技术站内查询相似图书
ISBN	9787118116366 如需购买下载《绝缘体上硅（SOI）技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	国防工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	128.0	语种	简体中文
尺寸	17 × 24	装帧	精装
页数		印数

全网搜索试读资源

书籍信息归属:

绝缘体上硅（SOI）技术是国防工业出版社于2018.7出版的中图分类号为 TN304.9 的主题关于 绝缘体上硅薄膜 的书籍。