大气中子在先进存储器件中引起的软错误

书籍简介:

本书共分八章。第一章，绪论；第二章，大气中子能谱和剂量；第三章，大气中子场的辐照实验；第四章，中子辐照试验装置；第五章，试验数据的评述和讨论；第六章，蒙特卡洛模拟方法；第七章，模拟结果及其意义；第八章，中子试验方法的国际标准。

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书籍详细信息
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ISBN	9787118102840 如需购买下载《大气中子在先进存储器件中引起的软错误》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	国防工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	89.0	语种	简体中文
尺寸	24 × 17	装帧	平装
页数		印数

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书籍信息归属:

大气中子在先进存储器件中引起的软错误是国防工业出版社于2015.8出版的中图分类号为 O572.34 的主题关于 中子－研究 的书籍。