大气中子在先进存储器件中引起的软错误

书籍简介:

本书共分八章。第一章，绪论；第二章，大气中子能谱和剂量；第三章，大气中子场的辐照实验；第四章，中子辐照试验装置；第五章，试验数据的评述和讨论；第六章，蒙特卡洛模拟方法；第七章，模拟结果及其意义；第八章，中子试验方法的国际标准。

书籍规格:

书籍信息归属:

大气中子在先进存储器件中引起的软错误是国防工业出版社于2015.8出版的中图分类号为 O572.34 的主题关于 中子－研究 的书籍。